一(yi)、測試服(fu)務包括(gua):
老化測試
沛頓依靠高效(xiao)的老化測試設(設)備提供老化測(測)試服務,包含(han)監控老化(MBI)、動態老化(DBI)和測(測)試(TDBI)。老化服務能(neng)涵蓋到(dao)當前所有產(產)品,包(bao)括內存芯片(pian)(DRAM)、系統級封裝(裝)芯片(SIP)、嵌入式(shi)存儲芯片(eMCP)。現有老(lao)化(hua)設備可(ke)支持 -10 °C 到(dao)125 °C的溫度區間(間)。
終測(測)
沛頓為DRAM、Flash類產(產)品提供終測(測)服務,現有自動測試機能測(測)試到最新一(yi)代高速、高容(rong)量的存儲芯(xin)片,包含標準型(xing)DDR4以及嵌入式LPDDR4。
自動測試機可支持 -55 °C 到125 °C的(de)溫度區間。
激(ji)光打標 / 外觀(觀)檢測
客戶商標和(he)追溯碼將由(you)激光打標機刻在產(產)品表面,使(shi)產品擁有完整的(de)制造追溯信(xin)息。我們的自(zi)動外觀(觀)掃描機將嚴格保證(證)芯片在(zai)出貨前(qian)達到客戶期(qi)望對芯片尺(chi)寸和錫球特性(xing)的品質要求(qiu)。
設備品牌(pai) 設備類別 可應用產品(pin) EO 激光(guang)打印機 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP 大族(zu) 激光打(da)印機 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP 惠特 激(ji)光打印機 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP ICOS 外觀檢測(測)機 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP INTEKPLUS 外(wai)觀檢測(測)機 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP Vitrox 外觀檢測(測)機 BGA, LGA, CSP, QFN, SOP
包裝
沛頓擁有完整(zheng)的包裝線,提供(gong)烘烤(125 ℃)、真空包裝、卷帶包裝(裝)服務,以(yi)及代客出貨至(zhi)客戶或終端(duan)客戶。二(er)、測(測)試機臺能力(li)
自動測(測)試機:
類別 設備品(pin)牌 設備型號 適用(yong)產品 存儲器 愛德萬(萬) H5620 DDR3, DDR4, LPDDR4 愛德萬(萬) HSM8G DDR4, LPDDR4, DDR5, LPDDR5 愛德萬 T5503HS2 DDR4, LPDDR4, DDR5, LPDDR5 愛德萬 T5503HS DDR3, DDR4, LPDDR3, LPDDR4 愛德萬 T5503A DDR3, eMCP(LPDDR2/3) 愛德萬(萬) T5588 DDR3, DDR4, eMCP(LPDDR2), MCP(LPDDR2/NAND), LPDDR4 愛德萬 T5593 eMCP(LPDDR2) DI AF8652 DDR3, DDR4, eMCP, eMMC 鴻勁 HT3309 eMMC/eMCP Flash 鴻勁 HT3350 SSD 邏輯&混合信(xin)號 致茂 3380D Logic & Mixed-signal
自(zi)動機械手:
類別 設備品(pin)牌 設備型號 適用產品 成(cheng)品測試 愛德萬 M6242 BGA, CSP, LGA, TSOP 愛德萬 M6542 BGA, CSP, LGA, TSOP Techwing TW350H BGA, CSP, LGA, TSOP 沛頓(頓)(自(zi)制) PH01 Strip of LGA/BGA
三(san)、測試工(gong)程(cheng)能力
●提供完整的(de)測試方案,以及在(zai)客戶協助下轉化測(測)試程序。
●按客戶要(yao)求提供(gong)標準工程樣品相關性分(fen)析(xi)。
●對異常批(pi)次展開電子(zi)失效模式分(fen)析、物理失(shi)效模式分析以確定(ding)失效模式。
●自動化系統能最(zui)最大程度預防(fang)人為作業錯(錯)誤,也提(ti)高(gao)生(sheng)產效率(lu)。
●提供內存芯(xin)片的(de)驗證(證)測試服務。
四(si)、設計能力(li)
●老化板設計
●測(測)試板設計
●自動測(測)試機測試應用板設計
●各類機械手配合治具設計
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